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奥林巴斯红外显微镜BX53M IR
奥林巴斯红外显微镜BX53M IR

可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPSbumps观察

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